回路電阻的測量

主回路

為了把做過溫升試驗(yàn)(型式試驗(yàn))的開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備與所有進(jìn)行出廠試驗(yàn)的同一型號(hào)的開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備進(jìn)行比較，應(yīng)該進(jìn)行主回路電阻的測量。

應(yīng)用直流測量每極端子間的電壓降或電阻。對于封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備應(yīng)該作特殊考慮。

試驗(yàn)電流應(yīng)該取100A至額定電流之間的任一電流值。

注：經(jīng)驗(yàn)表明，僅憑主回路電阻增大不能認(rèn)為是觸頭或聯(lián)結(jié)不好的可靠證據(jù)。此時(shí)，應(yīng)該使用更大的電流(盡可能接近額定電流)重復(fù)進(jìn)行試驗(yàn)。

直流電壓降或電阻應(yīng)在溫升試驗(yàn)前在開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備所處的周圍空氣溫度下進(jìn)行一次測量；溫升試驗(yàn)后，當(dāng)開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備冷卻到周圍空氣溫度時(shí)再測量一次，兩次所測得的電阻值的差不應(yīng)大于20%。

型式試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出直流電壓降或電阻的測量值，以及試驗(yàn)時(shí)的一般條件(電流、周圍空氣溫度、測量部位等)。

輔助回路

1級和2級輔助觸點(diǎn)電阻的測量

將1級和2級輔助觸點(diǎn)的每種類型的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路，然后加上開路電壓為6V(相對偏差為-15%)的直流電源，使其流過10mA的電流，按GBT5095.2-1997的試驗(yàn)2b測量其電阻。

閉合的1級和2級輔助觸點(diǎn)的電阻不應(yīng)超過50。

注：觸頭材料出現(xiàn)的氧化可能會(huì)降低有效的載流能力，因此可能導(dǎo)致接觸電阻的增加，甚至在非常低的電壓回路中不能導(dǎo)通，而在較高的電壓回路中又沒有出現(xiàn)問題。

本試驗(yàn)的目的是為了檢驗(yàn)在這些低電壓條件下觸頭的接觸性能。評估的判據(jù)考慮了電阻的非線性。50的數(shù)值源于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)并已被用戶接受。

3級輔助觸點(diǎn)電阻的測量

將3級輔助觸點(diǎn)的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路，然后加上開路電壓≤30mV的直流電源，使其流過≤10mA 的電流，按正IEC61810-7測量其電阻。